Nicomp Z3000 纳米粒径与Zeta电位分析仪-美国PSS-新品

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  Nicomp 380 Z3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号380ZLS&S基础上升级配套而来，采用动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理检测分析颗粒的粒度分布，同机采用多普勒电泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS）检测ZETA电位。粒径检验测试范围 0.3nm – 10μm，ZETA电位检验测试范围为+/- 500mV。其配套粒度分析软件复合采用了高斯（ Gaussian）单峰算法和拥有专利技术的 Nicomp 多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有独特优势。ZETA电位模块使用双列直插式方形样品池和钯电极，一个电极能够正常的使用成千上万次。另外，采用可变电场适应不一样的样品检测需求。既保证检测精度，亦帮用户非常大地节省检测成本。

  精确度高，最接近样品线、复合型算法：高斯（Gaussion）单峰算法与专利的Nicomp多峰算法自由切换

  （1）高斯（Gaussion）单峰算法与专利的Nicomp多峰算法自由切换

  粒径大于100 nm的颗粒在激光的照射下不会朝着各个方向散射。多角度检测角器通过调节检测角度来增加粒子对光的敏感性来测试某些特殊级别粒子。Nicomp 380可以配备范围在10°-175，步长0.7°的多角度测角器，从而使得单一90°检测角测试不了的样品，通过调节角度进行仔细的检测，改善对大粒子多分散系粒径分析的精确度。

  基线调整自动补偿功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 380系列仪器所独有的两个主要特征，Nicomp创始人Dave Nicole很早就认识到传统的动态光散射理论仅给出高斯模式的粒度分布，这和实践生产生活中不相符，因为现实中很多样本是多分散体系，非单分散体系，而且高斯分布灵敏性不足，分辨率不高，这些特点都制约了纳米粒度仪在实际生产生活中的使用。其开创性的开创了Nicomp多峰分布理论，大幅度的提升了动态光散射理论的分辨率和灵敏性。

  如图一：此数据为Nicomp创始人Dave Nicole亲测其血液所得的真实案例。其检验测试的项目为：高密度脂蛋白，低密度脂蛋白和超低密度脂蛋白，由图中能够准确的看出，其血液中三个组分的平均粒径分别显示在7.0nm；29.3nm和217.5nm。由此可见，Nicomp分布模式可以轻松又有效反应多组分体系的粒径分布。

  Nicomp系列仪器均能自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切换。其不但可以给出传统的DLS系统的结果，更能够最终靠Nicomp多峰分布模式体现样品的真实情况。依托于Nicomp系列仪器一系列优异的算法和高灵敏性的硬件设计，Nicomp纳米激光粒度仪可以有效区分1:2的多分散体系。

  如图二：此数据为检测93nm和150nm的标粒按照1:2的比例混合后所测得的数据。左边为高斯分布（Gaussian）结果，右图为Nicomp多峰分布算法结果，两者都为光强径数据。从高斯分布能够获得此混合标粒的平均粒径为110nm-120nm之间，却没办法得到实际的多组分体系结构。从右侧的Nicomp多峰分布能够获得结果为双峰，即如数据呈现，体系中的粒子主要分布于98.2nm以及190nm附近，这和真实的情况相符。

  为满足不一样的客户的实际检验测试需求，我司的Nicomp 380 N3000会配备相应的配置，旨在为客户们在控制成本的基础上，得到需求的解决方案，达到收益最大化。

  美国PSS粒度仪公司在开发仪器的过程中，考虑到在各种极端实验测试条件中不同的需求，对不同使用条件和环境配置了不一样的功率的激光发生器。大功率的激光器可以对极小的粒子也能搜集到足够的散射信号，使得仪器能获得极小粒子的粒径分布。同样，大功率激光器在测试大粒子的时候同样也很有帮助，比如在检测右旋糖酐大分子时，折射率的特性会引起光散射强度不足。

  因为大功率激光器的特性，会弥补散射光强的不足和衰减，测试极其微小的微乳、表面活性剂胶束、蛋白质以及其他大分子不再是一个苛刻的难题。即使没有色谱分离，Nicomp 380纳米粒径分析仪甚至也可以轻易估算出生物高分子的聚集程度。

  APD通常被用于散射发生不明显的体系里来增加信噪比和敏感度，如蛋白质、不溶性胶束、浓度极低的体系以及大分子基团，他们的颗粒的一般浓度为1mg/mL甚至更低，这些颗粒是由对光的散射不敏感的原子组成。APD外置了一个大功率激光发生器模块，在非常短的时间内就能检测分析纳米级颗粒的分布情况。

  粒径大于100 nm的颗粒在激光的照射下不会朝着各个方向散射。多角度检测角器通过调节检测角度来增加粒子对光的敏感性来测试某些特殊级别粒子。Nicomp 380可以配备范围在10°-175，步长0.7°的多角度测角器，从而使得单一90°检测角测试不了的样品，通过调节角度进行仔细的检测，改善对大粒子多分散系粒径分析的精确度。

  近十几年来，动态光散射技术（Dynamic Light scattering, DLS），也被称为准弹性光散射（quasi-elastic light scattering, QELS）或光子相关光谱法（photon correlation spectroscopy， PCS）,已经被证明是表征液体中分散体系的粒径分布（PSD）的极有用的分析工具。DLS技术的有效检测粒径范围——从5am（0.005微米）到10几个微米。DLS技术的优势相当明显，尤其是当检测到300nm以下亚微米的粒径范围时，在此区间，其他的技术方法大部分都已经失效或没办法得到准确的结果。因此，基于DLS理论的设备仪器被广泛采用用以表征特定体系的粒度分布，包括合成的高分子聚合物(如乳胶，PVCs等)，水包油和油包水的乳剂，囊泡，胶团，微粒，生物大分子，颜料，燃料，硅土，金属晶体，陶瓷和其他的胶体类混悬剂和分散体系。

  最新的动态光散射方法（DLS）从传统的光散射理论中分离，不再关注于光散射的光强值，而关注于光强跟着时间的波动行为。简单来说，我们在一定角度（通常用90°角）检测分散溶剂中的混悬颗粒的总体散射光信息。由于粒度的扩散，光强值不断波动，理论上存在有非常理想化的波动时间周期，此波动时间和粒子的扩散速度呈反比例关系。我们通过光强值的波动自相关函数的计算来获得随时间变化的衰减指数曲线。从衰减时间常量τ，我们大家可以获得粒子的扩散速度D。使用Stokes-Einstein 方程式，我们最终可以计算得出颗粒的半径（假定其是一个圆球形状）。

  为了容易理解什么叫做强度随时间波动，我们一定要先理解相干叠加（coherent addition）或线性叠加（superposition）的概念,进一步要知道检测区域内的不同的粒子产生了很多独立散射光，这些独立的散射光相干叠加或互相叠加的最终结果就是光强。这种物理现场被称为“干涉”。下图是光干涉图样。

  每一束独立的散射光波到达检测器和入射激光波长有相位关系，这主要根据悬浮液中颗粒的精确定位。所有的光波在PMT检测器的表面的狭缝中混合在一起，或者叫干涉在一起，最终在特定的角度可以检测得到“净”散射光强值，在DLS系统中，绝大部分都使用90度角。

  ，简称PMT），是一种对紫外光、可见光和近红外光极其敏感的特殊真空管。它能使进入的微弱光信号增强至原本的

  光电倍增管是由玻璃封装的真空装置，其内包含光电阴极(photocathode)，几个二次发射极

  和一个阳极。入射光子撞击光电阴极，产生光电效应，产生的光电子被聚焦到二次发射极。其后的工作原理如同电子倍增管，电子被加速到二次发射极产生多个二次电子，通常每个二次发射极的电位差在100到

  伏特。二次电子流像瀑布一般，经过一连串的二次发射极使电子倍增，最后到达阳极。一般光电倍增管的二次发射极是分离式的，而电子倍增管的二次发射极是连续式的。应用

  悬浮的粒子并不是静止不动的，相反，他们以布朗运动（Brownian motion)的方式无规则的运动，布朗运动主要是由于临近的溶剂分子冲撞而引起的。因此，到达PMT检测区的每一束散射光随时间也呈无规则波动，这是由于产生散射光的粒子的位置不同而导致的无规则波动。因为这些光互相干涉在一起，在检测器中检测到的光强值就会随时间而不断波动。粒子很小的位移需要在相位上产生很大的变化，进而产生有实际意义的波动，最终这些波动在净光强值上反应出来。

  DLS测量粒径技术的关键物理概念是基于粒子的波动时间周期是随着粒子的粒径大小而变化的。为了简化这个概念，我们现在假定粒子是均一大小的，具有相同的扩散系数（diffusion coefficient)。分散体系中的小粒子运动的快，将会导致光强波动信号变化很快；而相反地，大粒子扩散地毕竟慢，导致了光强值的变化比较慢。

  图示4使用相同的时间周期来观测不同大小（小，中，大）的粒子产生的散射光强变化,请注意，横坐标是时间t。

  η是分散溶剂的额剪切粘度，比如20℃的水的η=1.002×10-2 泊；从上述公式2中我们大家可以看到，通常情况下，粒子的扩散系数D会随着温度T的上升而增加。温度进而也会影响溶剂粘度η。例如，纯水的粘度在25℃下会落到0.890×10-2泊，和20℃下相比会有10%的改变。毫无疑问，溶剂的粘度越小，粒子的无规则扩散速度会越大，从而导致光强的波动也越快。因此，温度T的变化和粒径的变化是完全分不开的，因为他们都影响到了扩散系数D。正因为这个原因，样本的温度必须保持恒定，而且必须非常精确，这样才能获得有实际意义的扩散系数D。从图4的“噪声”信号中无法直接提取出扩散系数。但是可以清楚地看到，信号b比信号c波动地快，但是比信号a波动地慢，因为，信号b地粒径一定在a和c之间，这只是很直观地得到一个结论而已。然而，量化此种散射信号是一个很专业地课题。幸而，我们有数学方法来解决这个问题，这就是自相关函数（auto-correlation)。

  自相关函数原理a现在让我们设定散射光强的自相关函数为IS(t)，在上述图4中能够正常的看到其随时间而波动。我们用C(t’)来标识自相关函数。C(t’)可以通过如下方程式3来表达：C(t’)=(3)

  表示有很多个t和对应的Is值。也就是说，一次计算就是运行很多Is(t)*Is(t-t’) 的加和，所有都具有相同的

  图5是典型的Is(t)的波形图，通过这张图，我们大家可以认为C(t’)和Is(t)之间有简单的比例关系，这张图的意义在于通过C(t’)函数能通过散射光强Is(t)的波动变化“萃取”出很有用的信息。自相关函数C(t’)其实是表征的不同大小的粒子随时间而衰变的规律。

  Zeta电位（Zeta potential）是指剪切面(Shear Plane)的电位，又叫电动电位或电动电势（ζ-电位或ζ-电势），

  我们知道胶体系统中有两个相，分散相和连续相，分散相在纳米和亚微米之间。因为微粒的粒径很小，因此它比表面积大从而有一些增强属性使其稳定悬浮。但是如果微粒开始絮凝，微粒的粒径改变，性能也有几率发生变化，如果不加以控制，絮凝体也可能进一步团聚形成沉淀，接着就会相位分离。当我们建立稳定分散体系时，我们应该维持微粒的稳定与分散，其中一个方法就是增强微粒表面电荷，然后这些微粒将带偶极矩互相之间产生排斥，随着微粒电荷的增加，微粒团聚而形成絮凝的几率降低。让微粒分散，

  目前测量ZETA电位的方法主要有电泳法、电渗法、流动电位法以及超声波法。Nicomp Z3000采用的是主流的电泳法测试ZETA。

  图3是Nicomp 380 Z3000设备内部的光路图，激光通过一个分光器分成两组光路，一组通过反射镜立即进入检测器，另一组经过一个可调节的滤光片后，再经由微粒散射进入到相关检测器中。观察两组相干光的频率变化或者相位变化，从而计算得出ZETA电势电位。从微观角度来理解ZETA电位的计算，微粒由于带电量或是带点符号不同，其在电场作用下的运动状态也会不同，这种运动状态我们用电泳淌度μ（带电离子在单位场强下的平均电泳迁移速率）来表征，我们通过检测器观察到的两组相干光的频率或是相位变化，结合电场强度，相干光波长等参数通过简单的数学建模计算得出粒子的电泳淌度μ，最终ZETA电位通过公式：

  波长为514.4nm的绿色二极管。雪崩光电二极管检测器（APD Detector）

  的原始样品，本模块收专利保护，其可免除人工稀释样品带来的外界环境的干扰和数据上的误差，此技术被用于批量进样和在线检测的过程中。

  个连续样本的分析而无需操作人员的干预。因此它是一个非常好的质量控制工具，能增大样品的处理量。非常大地节省了宝贵的时间。

  通常是氧化铝、二氧化硅或氧化铈)两部分所组成。抛光过程特别大程度上取决于晶片表面构型。晶片的加工误差通常以埃计，对晶片质量至关重要。抛光液粒度越均匀、不聚集成胶则越有利于化学机械抛光工艺流程的顺利进行。

  液体工作介质（如：油）越来越昂贵，延长液体介质的寿命是目前普遍关心的问题。机械设备运转过程中会产生金属屑或颗粒落入工作介质中（如：油浴润滑介质或液力传递介质），因此就需要一种方法来确定介质（油）的更换周期。通过监测工作介质（油）中颗粒的分布和变化能确定更换工作介质的周期以及延长其使用寿命。

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