激光粒度仪的测验原理docx

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  1 激光粒度仪的测验原理 当光束行进过程中遇到颗粒时，将发生散射现象，散射光与光束初始传达方向构成一个夹角θ，散射角的巨细与颗粒的粒径相关，颗粒越大，发生的散射光的θ角就越小；颗粒越小，发生的散射光的θ角就越大。这样，丈量不同视点上的散射光的强度，就可以取得样品的粒度散布了。 激光粒度分析仪是利用光的散射原理丈量粉颗粒巨细的，是一种当时粒度丈量范畴使用最广泛的的粒度仪。其特点是丈量的动态规模宽、丈量速度快、操作便当，特别合适丈量粒度散布规模宽的粉体和液体雾滴。激光粒度仪作为一种测验功能优异和适用范畴极广的粒度测验仪器，...

  1 激光粒度仪的测验原理 当光束行进过程中遇到颗粒时，将发生散射现象，散射光与光束初始传达方向构成一个夹角，散射角的巨细与颗粒的粒径相关，颗粒越大，发生的散射光的角就越小；颗粒越小，发生的散射光的角就越大。这样，丈量不同视点上的散射光的强度，就可以取得样品的粒度散布了。 激光粒度分析仪是利用光的散射原理丈量粉颗粒巨细的，是一种当时粒度丈量范畴使用最广泛的的粒度仪。其特点是丈量的动态规模宽、丈量速度快、操作便当，特别合适丈量粒度散布规模宽的粉体和液体雾滴。激光粒度仪作为一种测验功能优异和适用范畴极广的粒度测验仪器，已经在其它粉体加工与使用范畴得到遍及的使用。 补白：本文所提的激光粒度仪是指根据静态散射光原理的激光粒度仪，请留心与动态散射光原理的纳米粒度仪区别开来。 跟着粉体技能的开展，对粒度分析仪的功能要求在逐渐的进步，特别是粒度仪的量程要求越来越宽。丈量下限要求到达几百乃至几十个纳米，丈量上限要求到达一千乃至几千微米。这对新式激光粒度仪规划者提出了极大的应战。 颗粒越细，散射光的视点越小，细小颗粒的散射光乃至在360 度规模内都有散布。为了拓宽仪器的丈量下限。需求有特别规的光学规划。颗粒越小，散布在 360 度空间规模的散射光光强